產(chǎn)品目錄
技術(shù)文章
當(dāng)前位置:首頁 > 技術(shù)文章 > 詳細(xì)內(nèi)容
ZDL-Ⅲ電子制冷中空玻璃露點(diǎn)儀溫度的測量方法有哪些
點(diǎn)擊次數(shù):1426 更新時(shí)間:2022-11-28
  在ZDL-Ⅲ電子制冷中空玻璃露點(diǎn)儀的設(shè)計(jì)中要著重考慮直接影響結(jié)露過程熱質(zhì)交換的各種因素,這個(gè)原則同樣適用于自動(dòng)化程度不太高的露點(diǎn)儀器操作條件的選擇。這里主要討論鏡面降溫速度和樣氣流速問題。―被測氣體的溫度通常都是室溫。因此當(dāng)氣流通過露點(diǎn)室時(shí)必然要影響體系的傳熱和傳質(zhì)過程。當(dāng)其它條件固定時(shí),加大流速將有利于氣流和鏡面之間的傳質(zhì)。特別是在進(jìn)行低霜點(diǎn)測量時(shí),流速應(yīng)適當(dāng)提高,以加快露層形成速度,但是流速不能太大,否則會(huì)造成過熱問題。這對制冷功率比較小的露點(diǎn)儀尤為明顯。流速太大還會(huì)導(dǎo)致露點(diǎn)室壓力降低而流速的改變又將影響體系的熱平衡。所以在露點(diǎn)測量中選擇適當(dāng)?shù)牧魉偈潜匾模魉俚倪x擇應(yīng)視制冷方法和露點(diǎn)室的結(jié)構(gòu)而定。一般的流速范圍在0.4~0.7L.min-1之間。為了減小傳熱的影響,可考慮在被測氣體進(jìn)入露點(diǎn)室之前進(jìn)行預(yù)冷處理。
 
  在露點(diǎn)測量中鏡面降溫速度的控制是一個(gè)重要問題,對于ZDL-Ⅲ電子制冷中空玻璃露點(diǎn)儀是由設(shè)計(jì)決定的,而對于手控制冷量的露點(diǎn)儀則是操作中的問題。因?yàn)槔湓吹睦鋮s點(diǎn)、測溫點(diǎn)和鏡面間的熱傳導(dǎo)有一個(gè)過程并存在一定的溫度梯度。所以熱慣性將影響結(jié)露(霜)的過程和速度,給測量結(jié)果帶來誤差。這種情況又隨使用的測溫元件不同而異,例如由于結(jié)構(gòu)關(guān)系,鉑電阻感溫元件的測量點(diǎn)與鏡面之間的溫度梯度比較大,熱傳導(dǎo)速度也比較慢,從而使測溫和結(jié)露不能同步進(jìn)行。而且導(dǎo)致露層的厚度無法控制。這對目視檢露來說將產(chǎn)生負(fù)誤差。
 
  ZDL-Ⅲ電子制冷中空玻璃露點(diǎn)儀溫度的測量方法包括:熱電偶,熱敏電阻及銷電阻感溫元件。熱敏電阻與熱電偶性能相似,靈敏度高但長期使用穩(wěn)定性較差。鈾電阻感溫元件則線性范圍寬,精度高,穩(wěn)定性好,輸出信號(hào)較強(qiáng),便于數(shù)字顯示。所有露點(diǎn)儀均采用銷電阻作為感溫元件。
 
  露點(diǎn)凝結(jié)的檢測方法主要有:目視觀察法,光電檢測法和壓電檢測法。在露點(diǎn)儀使用者需要獲得優(yōu)于±°的準(zhǔn)確度時(shí),露點(diǎn)儀的使用者釆用精度較高的光電測量法,但它存在響應(yīng)速度慢,易出現(xiàn)滯后現(xiàn)象及露點(diǎn)光學(xué)測量靈敏度的調(diào)節(jié)等問題。壓電檢測法的優(yōu)點(diǎn)在于,通過壓力檢測可以判斷過冷現(xiàn)象。

分享到:

加入收藏 | 返回列表 | 返回頂部